keywords:"back scattered electrons (BSE)" - Výsledky hledání - Digitální repozitář

host :: přihlásit Digitální repozitář
		Hledej		Nový záznam		Nápověda		O repozitáři

Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"back scattered electrons (BSE)"

Hledej:

Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání

Hledej ve sbírkách:

Seřadit podle:	Zobrazit výsledky:	Výstupní formát:

	Scintilační detektor sekundárních elektronů pro REM pracující při vyšším tlaku v komoře vzorku Kozelský, Adam ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce) Tato práce obsahuje teoretický popis základních vlastností a principu elektronové mikroskopie, se zaměřením na rastrovací elektronovou mikroskopii. Popisuje konstrukční řešeni mikroskopu, interakce probíhající po dopadu elektronového svazku na vzorek, především pak zpětně odražené a sekundární elektrony. Další kapitoly se zabývají historickým vývojem elektronové mikroskopie a environmentální elektronovou mikroskopii. Praktická část se zabývá problematikou detekce sekundárních elektronů scintilačním detektorem v rastrovacím elektronovém mikroskopu pracujícím při vyšším tlaku v komoře vzorku. Konkrétně optimalizaci napětí na sběrné mřížce a proměření tlakových závislostí. Úplný záznam
	Metodika stanovení velikosti detekovaného signálu v environmentálním SEM Kršňák, Jiří ; Tihlaříková, Eva (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce) Předkládaná práce se zabývá vyhodnocováním detekce velikosti signálu z připraveného vzorku v environmentálním SEM. V práci bylo provedeno porovnání osciloskopické metody stanovení velikosti signálu v environmentálním SEM, metody vyhodnocování velikosti signálu z úrovně šedi ze snímků vzorků a metody měření velikosti signálu pomocí osciloskopu. V práci jsou popsány výhody a nevýhody metod a postup při zpracování těchto metod. Úplný záznam
	Scintilační detektor sekundárních elektronů pro REM pracující při vyšším tlaku v komoře vzorku Kozelský, Adam ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce) Tato práce obsahuje teoretický popis základních vlastností a principu elektronové mikroskopie, se zaměřením na rastrovací elektronovou mikroskopii. Popisuje konstrukční řešeni mikroskopu, interakce probíhající po dopadu elektronového svazku na vzorek, především pak zpětně odražené a sekundární elektrony. Další kapitoly se zabývají historickým vývojem elektronové mikroskopie a environmentální elektronovou mikroskopii. Praktická část se zabývá problematikou detekce sekundárních elektronů scintilačním detektorem v rastrovacím elektronovém mikroskopu pracujícím při vyšším tlaku v komoře vzorku. Konkrétně optimalizaci napětí na sběrné mřížce a proměření tlakových závislostí. Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.

Digitální repozitář :: :: :: ::
Powered by v1.1.2
Spravuje

Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky English